報告題目：從工程師角度看ATE測試

報 告 人：高山川

報告時間：2023年12月1日下午14:00

報告地點：4A103

主辦單位：理學院

報告人簡介：

高山川，北京信諾達泰思特科技股份有限公司高級工程師，在半導體集成電路自動測試領域有多年的工作經驗，目前主要負責ATE（Automatic Test Equipment）設備研發、信諾達軍口版塊技術支持與測試程序開發，同時，兼任信諾達成都分公司的技術負責人，發表期刊論文2篇。

內容簡介：

ATE（Automatic Test Equipment）測試：即在專用自動化測試設備上進行開發和測試。在大批量復雜集成電路測試中，傳統儀表搭建環境效率低下，可復制性差，且對測試人員水平和動手能力要求高；ATE對已有測試程序及適配器的可移植性極好，資源也很豐富，能最大程度上滿足測試需求。集成電路測試貫穿整個芯片設計、生產制造及使用環節，對于檢測集成電路功能完整、性能合規尤為重要。國內外當前ATE測試發展迅速，市面上已出現多種型號設備；然而，熟悉ATE測試開發的工程師卻嚴重短缺。國外設備領先我們1.5~2代，某些高端設備已開始停止向中國輸入，如果同學們想從事芯片測試工作，需要具備的基礎知識有哪些？應該如何培養自己成為一名ATE工程師。